标准编号:SJ/T 11586-2016本标准规定了使用 X 射线辐射仪(光子平均能量约 10keV,最大光子能量不超过100keV)对半导体器件和电路进行电离辐射效应试验的方法和程序。适用于,标准网,标准分享网,标准下载网,免费标准网,标准信息网,国家标准网
标准编号:SJ/T 11586-2016本标准规定了使用 X 射线辐射仪(光子平均能量约 10keV,最大光子能量不超过100keV)对半导体器件和电路进行电离辐射效应试验的方法和程序。适用于,标准网,标准分享网,标准下载网,免费标准网,标准信息网,国家标准网
资料获取方法:扫描下方二维码,关注“万能资料全库”公众号,回复你需要的资料名称,
公众号会自动发给你,按要求下载即可!
说明:如转载需说明本文出处 /jjqd/37840.html